案例速遞|微型全頻揚(yáng)聲器振膜缺陷檢測(cè)
檢測(cè)背景:
微型揚(yáng)聲器振膜是目前消費(fèi)電子領(lǐng)域用量最大的聲學(xué)核心元件之一。這些微型揚(yáng)聲器振膜任何表面缺陷都會(huì)對(duì)成品造成嚴(yán)重影響如:
異物:振動(dòng)時(shí)與振膜碰撞產(chǎn)生明顯的破音、雜音。
劃痕:破壞振膜表面的光滑度,導(dǎo)致高頻散射,高音變得刺耳。
凹凸缺陷:凹凸區(qū)域振動(dòng)幅度與周?chē)灰恢拢a(chǎn)生明顯諧波失真。

圖片為AI生成↑
檢測(cè)需求:
檢測(cè)對(duì)象:微型揚(yáng)聲器振膜
檢測(cè)類(lèi)型:振膜表面各類(lèi)缺陷
像素精度:0.02mm/pixel
檢測(cè)方案:
相機(jī):面陣相機(jī)
鏡頭:FA鏡頭
光源:光度環(huán)形無(wú)影光源
方案說(shuō)明:
高分辨率面陣相機(jī),搭配FA工業(yè)鏡頭,垂直安裝在振膜正上方。光度環(huán)形無(wú)影光源,在鏡頭下方,光源的不同分區(qū)依次高速點(diǎn)亮,相機(jī)同步拍攝,捕獲4幅不同光照方向下的圖像,然后傳給算法處理。

(成像示意圖)
針對(duì)振膜凹凸類(lèi)缺陷,光度立體相對(duì)高度圖可過(guò)濾表面紋理、反光與色差干擾,樣品的三維形貌可視化:凹陷呈黑色,凸起呈白色,缺陷邊界清晰,無(wú)漏檢誤判。
針對(duì)劃痕、臟污、異物三類(lèi)缺陷,光度立體相對(duì)灰度融合圖,通過(guò)算法計(jì)算出灰度閾值來(lái)區(qū)分缺陷類(lèi)型:淺劃痕與表面臟污呈現(xiàn)深色,凸起異物及深劃痕呈現(xiàn)白色。

該檢測(cè)方案以光度立體技術(shù)為核心,實(shí)現(xiàn)了振膜表面三維形貌與二維缺陷的同步精準(zhǔn)識(shí)別。成像清晰,缺陷分類(lèi)明確,為微型揚(yáng)聲器振膜的質(zhì)量控制提供了可靠的技術(shù)保障。
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