繼電保護(hù)裝置選型，除了考慮保護(hù)邏輯，還需要依托互感器二次短路電流計(jì)算結(jié)果，校核裝置電流采樣量程和短時(shí)過(guò)載耐受能力。如果保護(hù)裝置量程不足，發(fā)生短路故障，二次大電流進(jìn)入裝置，造成采集模塊損壞，繼電保護(hù)失效，無(wú)法切除故障，擴(kuò)大事故范圍。

一次系統(tǒng)發(fā)生短路，CT 輸出二次短路電流，在不飽和區(qū)間，電流大小等于一次短路電流除以變比。該數(shù)值是保護(hù)裝置采樣量程選型的核心依據(jù)。裝置額定采樣一般為 1A 或 5A，需要耐受故障短時(shí)大電流，要對(duì)比二次短路電流和裝置短時(shí)過(guò)載能力。

CT 飽和會(huì)改變二次電流波形。當(dāng)一次短路電流超過(guò) ALF 限值，鐵芯飽和，二次電流波形畸變，幅值下降。此時(shí)就算硬件量程足夠，失真的電流信號(hào)會(huì)讓保護(hù)裝置計(jì)算錯(cuò)誤，出現(xiàn)拒動(dòng)或者誤動(dòng)。所以校核分為兩層，一是硬件過(guò)載能力，二是飽和帶來(lái)的采樣失真問題。

計(jì)量繞組和保護(hù)繞組用途不同。計(jì)量繞組 ALF 低，短路工況極易飽和，不能接入保護(hù)裝置；保護(hù)繞組專門針對(duì)故障電流采集，ALF 參數(shù)更高，故障區(qū)間維持電流線性輸出，保護(hù)采樣優(yōu)先取用保護(hù)繞組。

二次回路阻抗變化，會(huì)改變飽和臨界點(diǎn)。電纜越長(zhǎng)、截面越小，回路阻抗越高，CT 更容易飽和。在計(jì)算二次短路電流的同時(shí)，評(píng)估飽和發(fā)生條件，預(yù)判故障時(shí)電流波形形態(tài)，判斷保護(hù)邏輯是否可以正常識(shí)別故障。

PT 二次短路計(jì)算，主要用于電壓回路熔斷器選型，電壓采集裝置不需要承受短路大電流，但短路故障會(huì)造成電壓信號(hào)消失，保護(hù)邏輯需要具備對(duì)應(yīng)異常處理機(jī)制。

很多工程選型只看額定電流，忽略故障短路下的二次電流水平。等到現(xiàn)場(chǎng)短路試驗(yàn)，出現(xiàn)保護(hù)裝置采樣模塊燒毀，才發(fā)現(xiàn)量程不足，只能更換設(shè)備，耽誤項(xiàng)目投運(yùn)。

編寫計(jì)算資料時(shí)，把二次短路電流、飽和判定結(jié)論、保護(hù)裝置過(guò)載能力對(duì)比一并寫入，圖紙會(huì)審和出廠試驗(yàn)都需要這份校核依據(jù)。農(nóng)網(wǎng)改造項(xiàng)目，長(zhǎng)二次引線更容易飽和，選型時(shí)要留有充足裕度。

保護(hù)裝置采樣量程校核，是互感器二次短路電流計(jì)算的重要應(yīng)用場(chǎng)景。兼顧硬件過(guò)載耐受與 CT 飽和帶來(lái)的波形失真，合理選擇繞組與保護(hù)裝置，保障短路故障下繼電保護(hù)可靠動(dòng)作，快速切除故障點(diǎn)。