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尼得科精密檢測科技將參展TPCA Show TAIPEI 2026

尼得科精密檢測科技將參展TPCA Show TAIPEI 2026

2026/10/13 16:23:00

尼得科精密檢測科技株式會社(以下簡稱“本公司”)將參展于2026年10月20日(星期二)至10月22日(星期四)在中國臺北南港展覽中心舉辦的國際展覽會“TPCA Show TAIPEI 2026”。

屏幕截圖 2026-10-13 162410.png

本展示會由中國臺灣電路板協會(TPCA)主辦,匯集了用于電子、信息通信、控制設備等的電子電路和實裝技術,以及電子基板的原材料和化學品等,與PCB(印制電路板)行業相關的所有產品和技術。

本公司以“支撐AI時代品質的創新檢測技術”為主題,針對隨著微細化與Heterogeneous Integration(異構集成)而不斷大型化、高密度化的高端電路基板,為確保持續進化的電子產業需求,提供優化的解決方案。

此外,我們將實物展示面向背鉆的X射線檢測解決方案,以及通過尼得科集團的協同效應新誕生的自動搬運機“EFEM(Equipment Front End Module)”。現有的圖像檢測裝置和電氣檢測裝置也實現了更高精度,我們將提出滿足前沿產品質量要求的綜合檢測解決方案。

〈參展概要〉

?會期:2026年10月20日(星期二)~10月22日(星期四)

?會場:中國臺灣臺北南港展覽中心(TaiNEX 1)

?展位:K-725

〈主要展示內容〉

?面向FOPLP/RDL的導通/短路檢測裝置“GATS?‐7885”

?半導體封裝多面貼裝全面板基板檢測裝置 “GATS?‐8370”

?面向大型分立半導體封裝的高精度檢測裝置 “GATS?‐7837”

?面向大型/多引腳基板的導通絕緣檢測裝置 “STAR REC?V6”

?支持CoWoP 面向大型HDI的導通/短路檢測裝置“GATS?‐8360”

?支持高密度基板的2D/3D光學式檢測裝置 “RSH系列”

?光模塊?大型基板対応次世代AI外觀檢測裝置 “AURCA Series”

?面向TGV(Through Glass Via)的高精度檢測解決方案

?窄間距對應治具解決方案 “NS探針”

(實機展示)

?用于背鉆的高速CT型X射線檢測機

?Wafer用自動搬送機EFEM “AVR SMV 3000” ※與尼得科儀器共同開發


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唐楠
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