產(chǎn)品概述

高分子絕緣薄膜、防靜電功能薄膜、復(fù)合涂層薄膜、橡膠片材、紡織基材、陶瓷薄板是電子制造、包裝行業(yè)、新材料研發(fā)、防靜電工程領(lǐng)域應(yīng)用廣泛的基礎(chǔ)材料。薄膜材料的絕緣電阻、泄漏電流、體積電阻率、表面電阻率，是評(píng)價(jià)薄膜絕緣性能、靜電消散能力、材料工藝一致性的關(guān)鍵檢測(cè)指標(biāo)。薄膜絕緣電阻率測(cè)試儀 BEST?380 是基于高性能微處理器開(kāi)發(fā)的直流高阻測(cè)量設(shè)備，面向各類(lèi)薄膜類(lèi)試樣開(kāi)展絕緣與靜電電學(xué)性能檢測(cè)，同時(shí)兼容塑料、橡膠、紡織品、防靜電板材、絕緣涂料、液體增塑劑等多種形態(tài)試樣的電阻率檢測(cè)工作，既能夠應(yīng)用于科研實(shí)驗(yàn)室新材料配方研發(fā)，也可以用于生產(chǎn)車(chē)間來(lái)料檢驗(yàn)、成品出廠(chǎng)質(zhì)控，還可以在第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)開(kāi)展標(biāo)準(zhǔn)符合性檢測(cè)工作。

本儀器參照多項(xiàng)國(guó)內(nèi)、國(guó)際相關(guān)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)開(kāi)展設(shè)計(jì)，覆蓋 ASTM D257?99 絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法，GB/T 1410?2006 固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法，GB/T1672?1988 液體增塑劑體積電阻率的測(cè)定，GB 12014 防靜電工作服，GB/T 20991?2007 個(gè)體防護(hù)裝備鞋的測(cè)試方法，GB 4385?1995 防靜電鞋、導(dǎo)電鞋技術(shù)要求，GB 12158?2006 防止靜電事故通用導(dǎo)則，GB 4655?2003 橡膠工業(yè)靜電安全規(guī)程，GB/T1692?2008 硫化橡膠絕緣電阻的測(cè)定，GB/T12703.6?2010 紡織品靜電性能的評(píng)定第 6 部分纖維泄漏電阻，GB13348?2009 液體石油產(chǎn)品靜電安全規(guī)程，GB/T 15738?2008 導(dǎo)電和抗靜電纖維增強(qiáng)塑料電阻率試驗(yàn)方法，GB/T 18044?2008 地毯靜電習(xí)性評(píng)價(jià)法行走試驗(yàn)，GB/T 18864?2002 硫化橡膠工業(yè)用抗靜電和導(dǎo)電產(chǎn)品電阻極限范圍，GB/T 22042?2008 服裝防靜電性能表面電阻率試驗(yàn)方法，GB/T 22043?2008 服裝防靜電性能通過(guò)材料的電阻 (垂直電阻) 試驗(yàn)方法，GB/T 24249?2009 防靜電潔凈織物，GB 26539?2011 防靜電陶瓷磚，GB/T 26825?2011 抗靜電防腐膠，GB 50515?2010 導(dǎo) (防) 靜電地面設(shè)計(jì)規(guī)范，GB 50611?2010 電子工程防靜電設(shè)計(jì)規(guī)范，GJB 105?1998?Z 電子產(chǎn)品防靜電放電控制手冊(cè)，GJB 3007A?2009 防靜電工作區(qū)技術(shù)要求，GJB 5104?2004 無(wú)線(xiàn)電引信風(fēng)帽用防靜電涂料及風(fēng)帽靜電性能通用要求等規(guī)范的測(cè)試條件要求，滿(mǎn)足不同行業(yè)材料檢測(cè)的標(biāo)準(zhǔn)化試驗(yàn)條件。

儀器輸出直流測(cè)試電壓區(qū)間為 1?1000V，電壓檔位數(shù)量充足，可以根據(jù)不同薄膜材料對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范靈活設(shè)置試驗(yàn)電壓，電阻測(cè)量覆蓋 5×102Ω～1×101?Ω，借助采集電流換算，測(cè)量范圍可以拓展至 20 次方歐姆區(qū)間，顯示計(jì)數(shù)最大支持 99999，測(cè)試速度最高可達(dá) 5 次 / 秒，兼顧高速流水線(xiàn)檢測(cè)和實(shí)驗(yàn)室高精度慢速測(cè)量?jī)煞N工況。設(shè)備集成分選判斷功能，內(nèi)置 10 組用戶(hù)自定義參數(shù)存儲(chǔ)，搭配多組訊響提示選項(xiàng)，配置 HANDLER 硬件接口，可以對(duì)接外部自動(dòng)化分選機(jī)構(gòu)，完成流水線(xiàn)全自動(dòng)物料檢測(cè)、合格與不合格物料篩選。本機(jī)集成 RS232 串口以及 LAN 以太網(wǎng)通訊接口，用于電腦端遠(yuǎn)程設(shè)備控制、測(cè)試數(shù)據(jù)采集、批量數(shù)據(jù)分析；計(jì)算機(jī)遠(yuǎn)程控制指令兼容 SCPI 可編程儀器標(biāo)準(zhǔn)命令集，方便接入自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)，實(shí)現(xiàn)無(wú)人值守批量試驗(yàn)。

當(dāng)儀器外接恒溫水浴、恒溫加熱試驗(yàn)附件之后，可以模擬不同環(huán)境溫度條件，完成塑料薄膜、電線(xiàn)電纜無(wú)屏蔽絕緣層在變溫工況下絕緣電阻的跟蹤測(cè)試，用于評(píng)估溫度變化對(duì)薄膜絕緣電學(xué)參數(shù)帶來(lái)的影響。儀器遵循企業(yè)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)，整機(jī)信號(hào)采集電路經(jīng)過(guò)優(yōu)化，在寬量程測(cè)量條件下保持測(cè)量結(jié)果穩(wěn)定，操作流程簡(jiǎn)潔，輸入端具備高壓短路防護(hù)機(jī)制，降低誤操作對(duì)硬件帶來(lái)的損傷。

儀器搭載電壓記憶、設(shè)置記憶功能，用戶(hù)完成一次參數(shù)配置之后，配置參數(shù)會(huì)保存于本機(jī)存儲(chǔ)單元，開(kāi)機(jī)之后無(wú)需重復(fù)輸入各項(xiàng)設(shè)置，直接啟動(dòng)就可以獲取測(cè)試結(jié)果；屏幕同時(shí)展示電阻數(shù)值以及經(jīng)過(guò)換算后的電阻率結(jié)果，減少人工計(jì)算帶來(lái)的人為偏差。設(shè)備支持計(jì)量機(jī)構(gòu)檢定校準(zhǔn)，送檢之后可以獲取校準(zhǔn)報(bào)告或者鑒定報(bào)告，滿(mǎn)足實(shí)驗(yàn)室、質(zhì)檢機(jī)構(gòu)儀器量值溯源管理要求。在薄膜材料日常檢測(cè)工作當(dāng)中，很多高分子薄膜、防靜電薄膜樣品對(duì)于測(cè)試條件比較敏感，電壓大小、加壓延時(shí)、環(huán)境溫濕度都會(huì)對(duì)最終電阻率數(shù)據(jù)產(chǎn)生影響，儀器提供測(cè)量延時(shí)、放電延時(shí)參數(shù)設(shè)置，用戶(hù)可以按照標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范調(diào)整充電時(shí)間，等待薄膜介質(zhì)極化完成之后再采集讀數(shù)，以此提升薄膜試樣測(cè)試數(shù)據(jù)的重復(fù)性。

整機(jī)交互采用 4.3 寸 TFT 彩色顯示屏，屏幕畫(huà)面信息完整，人機(jī)交互邏輯簡(jiǎn)潔，機(jī)身整體結(jié)構(gòu)緊湊，不會(huì)占用過(guò)多工作臺(tái)空間。硬件接口配置豐富，HANDLER 接口、RS?232 接口、以太網(wǎng) LAN 接口、U 盤(pán)接口全部集成在機(jī)身，既可以單機(jī)獨(dú)立完成全部測(cè)試，也可以連接上位機(jī)軟件開(kāi)展電腦端控制、數(shù)據(jù)導(dǎo)出歸檔。供電系統(tǒng)支持 110V~240V 寬電壓輸入，適配國(guó)內(nèi)實(shí)驗(yàn)室市電以及海外電壓工況，電源工作頻率 47Hz?63Hz，整機(jī)功耗控制在 50W 以?xún)?nèi)。

在薄膜類(lèi)樣品實(shí)際檢測(cè)場(chǎng)景中，薄膜試樣厚度薄，部分超高絕緣薄膜回路泄漏電流為 pA 級(jí)別，微弱信號(hào)很容易受到空間電磁干擾、樣品表面灰塵油污、電極接觸狀態(tài)帶來(lái)影響。儀器在硬件層面做了微弱信號(hào)采集優(yōu)化，搭配配套屏蔽箱與三電極測(cè)試電極套件，能夠抑制空間干擾信號(hào)以及樣品表面泄漏電流，提升薄膜小電流測(cè)量的穩(wěn)定性。對(duì)于批量薄膜來(lái)料質(zhì)檢場(chǎng)景，可使用快速測(cè)試模式提升檢測(cè)效率；對(duì)于新材料研發(fā)，超高阻薄膜樣品，切換慢速測(cè)試模式，預(yù)留充足極化時(shí)間，獲取更加穩(wěn)定的測(cè)試讀數(shù)。本機(jī)存儲(chǔ)、U 盤(pán)導(dǎo)出、上位機(jī)采集三種數(shù)據(jù)保存路徑，方便不同使用場(chǎng)景的數(shù)據(jù)留存，科研實(shí)驗(yàn)可以導(dǎo)出原始數(shù)據(jù)用于繪圖統(tǒng)計(jì)，生產(chǎn)質(zhì)檢可留存記錄用于產(chǎn)品質(zhì)量追溯。

儀器基礎(chǔ)工作原理

薄膜絕緣電阻率測(cè)試儀基于直流恒壓測(cè)試法開(kāi)展測(cè)量，核心理論依據(jù)為歐姆定律 R=U/I。儀器內(nèi)部直流電壓源輸出設(shè)定的恒定直流電壓 U，施加在被測(cè)薄膜試樣兩端，高精度微弱電流采集單元捕獲穿過(guò)試樣的泄漏電流 I，儀器微處理器通過(guò)電壓與電流的比值計(jì)算得到試樣絕緣電阻 R。配合輸入的薄膜樣品厚度、電極幾何尺寸參數(shù)，設(shè)備進(jìn)一步運(yùn)算輸出體積電阻率、表面電阻率數(shù)值。

體積電阻 Rv 代表垂直穿過(guò)薄膜試樣本體材料的電阻；表面電阻 Rs 代表沿著薄膜樣品表面形成泄漏通路的電阻。體積電阻率與表面電阻率屬于材料固有屬性，不受樣品幾何尺寸改變帶來(lái)影響，也是各類(lèi)材料標(biāo)準(zhǔn)當(dāng)中重點(diǎn)引用的評(píng)價(jià)指標(biāo)。測(cè)試工作采用三電極測(cè)試體系，電極分為高壓電極、測(cè)量電極、保護(hù)電極。測(cè)試薄膜體積電阻時(shí)，保護(hù)電極可以旁路掉薄膜表面產(chǎn)生的泄漏電流，讓采集回路只接收穿過(guò)薄膜本體的體電流，規(guī)避薄膜表面潮氣、粉塵造成的表面漏電對(duì)體積電阻測(cè)試結(jié)果的干擾；測(cè)試薄膜表面電阻時(shí)，保護(hù)電極改變電場(chǎng)分布，降低薄膜本體體積電流對(duì)表面電阻讀數(shù)的干擾，三電極體系對(duì)于薄型絕緣薄膜、高阻防靜電薄膜的測(cè)量有著重要作用，也是 GB/T1410?2006 標(biāo)準(zhǔn)當(dāng)中明確推薦的電極結(jié)構(gòu)。

整機(jī)內(nèi)部電路分為直流可調(diào)高壓發(fā)生單元、微弱電流放大采樣單元、微處理器主控單元、顯示交互單元、外部通訊接口單元。直流高壓?jiǎn)卧鶕?jù)用戶(hù)設(shè)置輸出 1?1000V 直流測(cè)試電壓，電壓回讀電路實(shí)時(shí)采集實(shí)際輸出電壓，做閉環(huán)修正，保障輸出電壓的準(zhǔn)確度。微弱電流放大單元負(fù)責(zé)采集 pA 至 mA 跨度的微弱回路電流，信號(hào)經(jīng)過(guò)放大、濾波之后送入 A/D 模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊，轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)傳遞給主控微處理器。微處理器完成電阻、電阻率運(yùn)算，處理按鍵與屏幕觸摸操作，管理本機(jī)參數(shù)存儲(chǔ)、數(shù)據(jù)記錄，同時(shí)完成各個(gè)外部接口的數(shù)據(jù)交互。

在測(cè)試流程上，儀器可以選擇手動(dòng)模式或者自動(dòng)模式。自動(dòng)模式下設(shè)備自動(dòng)完成升壓、計(jì)時(shí)延時(shí)、電流采樣、數(shù)據(jù)計(jì)算、放電降壓整套流程，無(wú)需操作人員分步調(diào)節(jié)量程，自動(dòng)掃描匹配合適量程輸出最終讀數(shù)；手動(dòng)模式由操作人員干預(yù)每一步流程，適合科研探索類(lèi)試驗(yàn)，方便分步觀(guān)察加壓之后薄膜樣品電流隨時(shí)間變化的趨勢(shì)。

薄膜類(lèi)高分子材料屬于電介質(zhì)，施加直流電壓之后會(huì)出現(xiàn)介質(zhì)極化現(xiàn)象，回路電流會(huì)隨著加壓時(shí)間發(fā)生變化，初始時(shí)刻電流偏大，之后逐步衰減趨于穩(wěn)定。所以部分材料標(biāo)準(zhǔn)要求規(guī)定固定的加壓延時(shí)時(shí)間，等待極化趨于穩(wěn)定之后再讀取測(cè)試數(shù)據(jù)。儀器可以自定義測(cè)量延時(shí)，設(shè)置加壓之后等待的時(shí)間，到達(dá)設(shè)定時(shí)長(zhǎng)再采集數(shù)據(jù)；測(cè)試結(jié)束之后設(shè)置放電延時(shí)，樣品電極回路充分釋放薄膜上積蓄的靜電電荷，防止試樣上殘余電荷對(duì)下一組樣品測(cè)試帶來(lái)干擾，同時(shí)也規(guī)避操作人員觸碰樣品帶來(lái)的靜電電擊風(fēng)險(xiǎn)。

當(dāng)啟用分選功能時(shí)，用戶(hù)預(yù)先設(shè)置電阻或者電阻率合格上限、下限閾值，測(cè)試完成之后儀器會(huì)將實(shí)測(cè)數(shù)值和閾值做對(duì)比，觸發(fā)訊響提示，同時(shí)通過(guò) HANDLER 接口輸出電平信號(hào)，對(duì)接外部自動(dòng)化分選機(jī)構(gòu)，實(shí)現(xiàn)流水線(xiàn)薄膜試樣自動(dòng)合格判定。SCPI 標(biāo)準(zhǔn)指令集可以經(jīng)由 RS232 串口或者 LAN 以太網(wǎng)接口下發(fā)，外部計(jì)算機(jī)能夠遠(yuǎn)程完成電壓修改、延時(shí)參數(shù)設(shè)置、啟動(dòng)測(cè)量、讀取結(jié)果、讀取本機(jī)存儲(chǔ)記錄等全部操作，適配實(shí)驗(yàn)室自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)集成需求。U 盤(pán)存儲(chǔ)功能不需要電腦參與，直接把本機(jī)歷史測(cè)試記錄保存至 U 盤(pán)，轉(zhuǎn)移至計(jì)算機(jī)做后續(xù)數(shù)據(jù)整理。

主要性能參數(shù)

一般功能: 測(cè)量參數(shù) 絕緣電阻 R, 泄漏電流 I, 表面電阻 Rs, 體積電阻 Rv 測(cè)試電壓 1?1000v 1000 個(gè)檔位可以調(diào) 測(cè)試范圍 電阻 102Ω ~ 101?Ω 基本覆蓋半導(dǎo)電材料和超絕緣材料的電阻測(cè)量 (超出顯示電流最大換算可到 20 次方), 電阻率最高可達(dá)到 1022 Ω?cm 測(cè)量方式：手動(dòng) / 自動(dòng)兩種 界面語(yǔ)言選擇：英文 / 中文兩種 顯示位數(shù)：4/5 位 兩種選擇 測(cè)量模式：三種 測(cè)試速度可選擇 快速 5 次 / 秒，慢速 1 次 / 秒，兩種可選 回讀電壓精度 0.5%±1V 測(cè)試特點(diǎn)：帶設(shè)置記憶功能開(kāi)機(jī)一鍵測(cè)試出結(jié)果不用反復(fù)設(shè)置 可設(shè)定測(cè)量延時(shí)和放電延時(shí) 十種自定義測(cè)量模式可以用戶(hù)自己編輯開(kāi)機(jī)直接調(diào)取滿(mǎn)足不同材料的測(cè)試需求 量程超限顯示 量程上超和量程下超 輸入端子 香蕉插頭，BNC 插頭 精度保證期 1 年根據(jù)計(jì)量證書(shū)有效期 可在全國(guó)任意檢測(cè)所檢測(cè)精度保證 操作溫度和濕度 0℃到 40℃80% RH 以下 (無(wú)凝結(jié)) 存儲(chǔ)溫度和濕度?10℃到 60℃80% RH 以下 (無(wú)凝結(jié)) 操作環(huán)境 室內(nèi)，最高海拔 2000m 電源 電壓：110V/ 220V AC 頻率：47Hz/63Hz 兩種供電模式 功耗 50 W 尺寸 約 331 mm x 329 mm x 80 mm 重量 約 4.1kg

標(biāo)準(zhǔn)配置: 1、測(cè)試儀器 1 臺(tái) 2、電源線(xiàn) 1 條 3、測(cè)試電極 1 套 4、使用說(shuō)明書(shū) 1 份 5、出廠(chǎng)測(cè)試報(bào)告 1 份 6、上位機(jī)連接線(xiàn) 1 條 7、屏蔽箱 1 個(gè) 8、測(cè)試夾 1 套 9、232 數(shù)據(jù)串口組件 1 套

儀器面板部件說(shuō)明

儀器前面板集成顯示屏、操作按鍵、各類(lèi)輸入輸出端子；背板布置電源輸入開(kāi)關(guān)、LAN 以太網(wǎng)接口、HANDLER 接口。各個(gè)端子接口的用途需要充分熟悉，尤其是薄膜高阻試樣測(cè)試，接線(xiàn)狀態(tài)直接影響數(shù)據(jù)穩(wěn)定性。

顯示屏采用 4.3 寸高分辨率 TFT 彩色屏幕，支持中文、英文兩套界面切換。屏幕頁(yè)面可以同步展示測(cè)試電壓、絕緣電阻、泄漏電流、體積電阻、表面電阻、體積電阻率、表面電阻率、測(cè)量延時(shí)倒計(jì)時(shí)、量程超限提示等信息。開(kāi)展薄膜試樣檢測(cè)時(shí)，用戶(hù)輸入薄膜樣品厚度參數(shù)，儀器完成換算，屏幕直接輸出電阻率結(jié)果，減少人工查表、手工計(jì)算的工作量。屏幕同時(shí)顯示量程提示，出現(xiàn)量程上超、量程下超狀態(tài)時(shí)會(huì)給出明確提示，方便操作人員判斷樣品實(shí)際阻值是否超出儀器當(dāng)前有效測(cè)量區(qū)間。

輸入端子包含香蕉插頭接口與 BNC 插頭接口。BNC 接頭具備良好屏蔽性能，薄膜高阻測(cè)量建議優(yōu)先使用 BNC 屏蔽線(xiàn)纜連接測(cè)試電極，降低空間電磁干擾耦合進(jìn)入信號(hào)回路；香蕉插頭適合常規(guī)中低阻樣品快速接線(xiàn)。高壓輸出端子輸出儀器設(shè)定直流測(cè)試電壓，連接三電極套件高壓電極；信號(hào)采集端子連接測(cè)量電極；保護(hù)端子連接三電極保護(hù)電極；接地端子需要和屏蔽箱外殼、測(cè)試電極保護(hù)端共同可靠連接保護(hù)地，接地對(duì)于薄膜超高阻樣品測(cè)試尤為關(guān)鍵，接地不良會(huì)引入外界干擾，造成讀數(shù)漂移。

HANDLER 接口為自動(dòng)化流水線(xiàn)分選接口，采用標(biāo)準(zhǔn)電氣接插件，輸出判定電平信號(hào)，對(duì)接外部分選設(shè)備。當(dāng)測(cè)試薄膜樣品開(kāi)啟分選模式，實(shí)測(cè)數(shù)值落在設(shè)定閾值區(qū)間之外，接口輸出對(duì)應(yīng)電平，外接機(jī)構(gòu)根據(jù)信號(hào)完成物料分揀；同時(shí)本機(jī)自帶訊響提示音，合格、超限狀態(tài)可以設(shè)置不同聲音提示，方便現(xiàn)場(chǎng)操作人員快速判斷樣品狀態(tài)。

RS?232 串口接口，用于傳統(tǒng)有線(xiàn)串口通訊，連接計(jì)算機(jī)串口或者 USB 轉(zhuǎn)串口模塊，完成 SCPI 指令交互、數(shù)據(jù)上傳。LAN 以太網(wǎng)接口可以接入實(shí)驗(yàn)室局域網(wǎng)，計(jì)算機(jī)通過(guò)網(wǎng)絡(luò)遠(yuǎn)程訪(fǎng)問(wèn)儀器，適合多臺(tái)儀器組網(wǎng)，或者測(cè)試工位距離計(jì)算機(jī)較遠(yuǎn)的場(chǎng)景。U 盤(pán)接口可以插入普通 U 盤(pán)，實(shí)現(xiàn)本機(jī)測(cè)試記錄批量導(dǎo)出，不需要上位機(jī)軟件就可以拷貝全部歷史數(shù)據(jù)，拷貝過(guò)程中不要直接拔出 U 盤(pán)，等待屏幕提示導(dǎo)出完成之后再取下存儲(chǔ)介質(zhì)，防止文件損壞。

電源輸入接口適配 110V?240V 交流供電，配套電源開(kāi)關(guān)控制整機(jī)上電、斷電。儀器開(kāi)機(jī)之后，系統(tǒng)讀取內(nèi)部存儲(chǔ)的用戶(hù)設(shè)置參數(shù)，實(shí)現(xiàn)設(shè)置記憶功能，上一次關(guān)機(jī)保存的電壓、延時(shí)、測(cè)量模式、分選閾值參數(shù)，開(kāi)機(jī)直接調(diào)取，不用重復(fù)逐項(xiàng)輸入，簡(jiǎn)化薄膜樣品重復(fù)批次檢測(cè)的操作步驟。

儀器完整操作使用流程

開(kāi)機(jī)準(zhǔn)備工作

將儀器安放在室內(nèi)平整工作臺(tái)面，環(huán)境溫度、濕度需要滿(mǎn)足儀器操作條件，避免結(jié)露。把儀器接地端子、屏蔽箱外殼可靠接入保護(hù)接地；連接電源線(xiàn)接通交流電源，確認(rèn)全部測(cè)試線(xiàn)纜接線(xiàn)完好，被測(cè)薄膜試樣尚未接入電極，打開(kāi)電源開(kāi)關(guān)完成開(kāi)機(jī)自檢。開(kāi)機(jī)完成后，屏幕進(jìn)入主操作界面。

薄膜試樣在正式測(cè)試之前，需要按照對(duì)應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)要求完成樣品預(yù)處理。很多高分子薄膜材料電阻率對(duì)溫濕度十分敏感，樣品需要放置在標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境條件下做狀態(tài)調(diào)節(jié)，去除樣品表面灰塵、油污、指紋印記，拿取薄膜樣品盡量夾持邊緣位置，避免手指觸碰電極接觸區(qū)域。如果薄膜表面存在吸附靜電，可按照標(biāo)準(zhǔn)流程做放電處理之后再放入屏蔽箱電極腔體內(nèi)。把薄膜試樣平整放置三電極套件內(nèi)部，保證薄膜和各個(gè)電極表面完整貼合，無(wú)褶皺、無(wú)氣泡，合上屏蔽箱箱蓋，屏蔽箱體可以阻隔外界電磁輻射干擾，對(duì)于薄型高絕緣薄膜，建議每次測(cè)試均使用屏蔽箱。

一般單機(jī)手動(dòng) / 自動(dòng)測(cè)試操作

在主界面進(jìn)入?yún)?shù)設(shè)置頁(yè)面，完成各項(xiàng)試驗(yàn)條件配置。首先選擇測(cè)量模式，體積電阻測(cè)試或者表面電阻測(cè)試；設(shè)置測(cè)試電壓，不同薄膜材料對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定電壓各有區(qū)別，例如部分防靜電薄膜采用 100V，普通絕緣薄膜選用 500V 或者 1000V；設(shè)置測(cè)量延時(shí)，也就是加壓之后等待極化的時(shí)間；設(shè)置放電延時(shí)，測(cè)試結(jié)束放電的時(shí)長(zhǎng)；輸入被測(cè)薄膜樣品厚度數(shù)值，儀器會(huì)使用厚度參數(shù)完成電阻率換算；選擇測(cè)試速度，快速模式 5 次每秒，適合阻值不高的防靜電薄膜流水線(xiàn)檢測(cè)，慢速模式 1 次每秒，適合超高絕緣薄膜，給介質(zhì)極化預(yù)留充足時(shí)間。儀器內(nèi)部可以編輯保存 10 組自定義測(cè)量模式，把不同薄膜材料整套參數(shù)分別存儲(chǔ)，后續(xù)測(cè)試直接調(diào)取對(duì)應(yīng)模式，不需要每次重新輸入全部參數(shù)。

參數(shù)設(shè)置完成，保存參數(shù)返回測(cè)試主界面。自動(dòng)模式下，點(diǎn)擊啟動(dòng)測(cè)試，儀器自動(dòng)輸出設(shè)定直流高壓，開(kāi)始計(jì)時(shí)等待測(cè)量延時(shí)，時(shí)間到達(dá)之后采集回路泄漏電流，運(yùn)算輸出電阻以及電阻率結(jié)果，完成之后執(zhí)行放電操作，屏幕鎖定本次測(cè)試結(jié)果。操作人員可以記錄屏幕讀數(shù)，也可以保存記錄至本機(jī)存儲(chǔ)器。手動(dòng)模式下，操作人員分步控制升壓、等待、讀數(shù)、放電步驟，適合科研試驗(yàn)觀(guān)察薄膜電流隨加壓時(shí)間的變化趨勢(shì)。

屏幕如果提示量程上超，代表被測(cè)薄膜電阻大于當(dāng)前量程上限；量程下超代表被測(cè)樣品電阻小于量程下限，需要評(píng)估樣品是否符合預(yù)期，或者調(diào)整測(cè)試條件。測(cè)試完成之后，確認(rèn)放電流程結(jié)束，再打開(kāi)屏蔽箱取出薄膜試樣，禁止測(cè)試過(guò)程中打開(kāi)屏蔽箱觸碰電極與薄膜樣品，高壓輸出狀態(tài)會(huì)存在觸電風(fēng)險(xiǎn)。

分選模式流水線(xiàn)測(cè)試操作

面向薄膜批量來(lái)料質(zhì)檢，開(kāi)啟分選功能。進(jìn)入分選參數(shù)設(shè)置頁(yè)面，設(shè)置電阻或者電阻率的合格上限、合格下限，設(shè)置不同判定結(jié)果對(duì)應(yīng)的訊響模式。完成參數(shù)保存，接入 HANDLER 接口到外部分選機(jī)構(gòu)，把薄膜樣品放入電極腔體，啟動(dòng)測(cè)試。儀器完成測(cè)量，將實(shí)測(cè)數(shù)值和閾值對(duì)比，如果落在合格區(qū)間，觸發(fā)合格訊響，HANDLER 輸出合格電平；高于上限或者低于下限，觸發(fā)超限提示音，輸出對(duì)應(yīng)超限電平信號(hào)，外部設(shè)備接收信號(hào)完成物料分選。整套流程可以重復(fù)執(zhí)行，實(shí)現(xiàn)大批量薄膜試樣快速檢測(cè)。

上位機(jī)遠(yuǎn)程控制測(cè)試

把 RS?232 或者 LAN 以太網(wǎng)接口和計(jì)算機(jī)建立通訊連接，運(yùn)行配套上位機(jī)軟件。軟件基于 SCPI 標(biāo)準(zhǔn)指令集和儀器交互，在電腦端完成全部參數(shù)設(shè)置、啟動(dòng)停止測(cè)量、實(shí)時(shí)讀取測(cè)試結(jié)果，原始數(shù)據(jù)可以在電腦端保存，生成試驗(yàn)記錄，導(dǎo)出表格文件，用于科研繪圖或者質(zhì)量報(bào)告編制。該模式適合長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)試驗(yàn)，不需要操作人員守在儀器屏幕前面，計(jì)算機(jī)自動(dòng)記錄每一次薄膜樣品的全部測(cè)試條件與結(jié)果。

U 盤(pán)數(shù)據(jù)導(dǎo)出、歷史記錄查閱

儀器本機(jī)可以保存多條測(cè)試歷史記錄，每一條記錄附帶測(cè)試時(shí)間、測(cè)試電壓、延時(shí)參數(shù)、樣品電阻、電阻率等信息。在主界面打開(kāi)數(shù)據(jù)管理頁(yè)面，可以直接在屏幕翻閱、查看歷史測(cè)試記錄。插入 U 盤(pán)，執(zhí)行數(shù)據(jù)導(dǎo)出，儀器把全部歷史記錄寫(xiě)入 U 盤(pán)存儲(chǔ)介質(zhì)。導(dǎo)出結(jié)束屏幕提示可以移除 U 盤(pán)之后，取下 U 盤(pán)，接入普通計(jì)算機(jī)讀取文檔，實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)數(shù)據(jù)離線(xiàn)歸檔。

系統(tǒng)語(yǔ)言、參數(shù)模式管理

儀器支持中文、英文界面切換，滿(mǎn)足不同操作人員使用需求。用戶(hù)可以編輯十套自定義測(cè)量配置，分別對(duì)應(yīng)不同類(lèi)型薄膜、橡膠、紡織材料的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試條件，配置完成保存為模式編號(hào)，后續(xù)測(cè)試直接調(diào)取編號(hào)，快速切換整套試驗(yàn)參數(shù)。

不同類(lèi)型薄膜與材料測(cè)試應(yīng)用說(shuō)明

高分子絕緣薄膜測(cè)試

PET、PP、PE 絕緣薄膜，鋰電池隔膜，各類(lèi)高分子絕緣功能薄膜，多采用三電極體積電阻率測(cè)試模式。按照產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)選擇測(cè)試電壓，放置平整薄膜樣品，保證電極與薄膜完全貼合，設(shè)置足夠測(cè)量延時(shí)，等待介質(zhì)極化完成之后讀取結(jié)果。薄膜厚度參數(shù)需要輸入準(zhǔn)確，厚度輸入錯(cuò)誤會(huì)直接造成體積電阻率換算結(jié)果產(chǎn)生偏差。超高絕緣薄膜務(wù)必使用屏蔽箱以及 BNC 屏蔽測(cè)試線(xiàn)纜，降低外界干擾帶來(lái)讀數(shù)跳動(dòng)。

防靜電薄膜、抗靜電功能薄膜測(cè)試

防靜電包裝薄膜、ESD 防護(hù)薄膜，既需要測(cè)試體積電阻率，也需要評(píng)價(jià)表面電阻率，表面電阻率反映薄膜表面電荷消散能力。測(cè)試表面電阻率，切換儀器至表面電阻測(cè)量模式，按照防靜電相關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置電壓、延時(shí)。防靜電薄膜阻值跨度比較寬，部分樣品處于半導(dǎo)電區(qū)間，可以選用快速測(cè)試模式提升批量檢測(cè)效率；開(kāi)啟分選模式，設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)允許的電阻上下限，用于產(chǎn)線(xiàn)來(lái)料篩選。

橡膠、片材、板材試樣測(cè)試

除薄膜之外，儀器兼容橡膠片、硅膠絕緣墊片、防靜電板材。厚片試樣測(cè)試邏輯和薄膜基本一致，準(zhǔn)確輸入樣品厚度參數(shù)，選用三電極屏蔽體系，放置樣品保證接觸面無(wú)空隙，開(kāi)展體積、表面電阻率檢測(cè)。

紡織品、防靜電織物測(cè)試

防靜電潔凈織物、防靜電工作服面料，參照紡織靜電性能相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置試驗(yàn)條件，更換適配織物樣品的測(cè)試電極組件，完成泄漏電阻、表面電阻率檢測(cè)。織物材料本身孔隙多，環(huán)境濕度對(duì)測(cè)試結(jié)果影響明顯，樣品需要完成溫濕度狀態(tài)調(diào)節(jié)之后再上機(jī)測(cè)試。

絕緣油、液體增塑劑測(cè)試

搭配液體測(cè)試電極套件，儀器可以開(kāi)展液體增塑劑絕緣電阻率檢測(cè)，參照 GB/T1672?1988 標(biāo)準(zhǔn)開(kāi)展試驗(yàn)，注意液體電極操作安全，避免液體溢出造成短路。

高溫條件下材料測(cè)試

外接恒溫水浴或者高溫試驗(yàn)腔體附件，把試樣放置溫控腔體內(nèi)部，測(cè)試線(xiàn)纜連接儀器輸入端子，設(shè)置目標(biāo)溫度，待溫度穩(wěn)定之后，開(kāi)展不同溫度點(diǎn)下絕緣電阻跟蹤測(cè)試，用于評(píng)估溫度變化對(duì)薄膜絕緣性能帶來(lái)的改變。

計(jì)量校驗(yàn)

儀器支持送到計(jì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)開(kāi)展校準(zhǔn)、檢定工作。計(jì)量時(shí)使用標(biāo)準(zhǔn)高阻箱，對(duì)不同量程、不同輸出電壓檔位開(kāi)展校驗(yàn)，校驗(yàn)完成得到計(jì)量證書(shū)，滿(mǎn)足實(shí)驗(yàn)室儀器量值溯源管理要求。

使用注意事項(xiàng)與安全操作要點(diǎn)

1、儀器輸出直流測(cè)試電壓最高可達(dá) 1000V，測(cè)試運(yùn)行過(guò)程中，電極、屏蔽箱腔體內(nèi)部帶有高壓，操作人員不可打開(kāi)屏蔽箱，禁止觸碰電極、測(cè)試線(xiàn)纜金屬裸露部分；測(cè)試結(jié)束必須等待儀器放電流程執(zhí)行完畢，確認(rèn)回路電荷釋放完成，再取出被測(cè)薄膜樣品，防范觸電風(fēng)險(xiǎn)。

2、儀器接地端子必須可靠接入保護(hù)地，接地不達(dá)標(biāo)，不僅帶來(lái)安全隱患，高阻薄膜測(cè)試還會(huì)出現(xiàn)讀數(shù)漂移、數(shù)據(jù)波動(dòng)現(xiàn)象，接地是高阻測(cè)量當(dāng)中不可忽略的操作環(huán)節(jié)。

3、薄膜試樣測(cè)試前需要做好樣品預(yù)處理，樣品表面油污、灰塵、手指印記，會(huì)顯著改變表面電阻率測(cè)試結(jié)果；薄膜褶皺、氣泡會(huì)造成電極接觸不良，帶來(lái)測(cè)量誤差。盡量按照對(duì)應(yīng)材料標(biāo)準(zhǔn)，完成溫濕度狀態(tài)調(diào)節(jié)再進(jìn)行檢測(cè)。

4、環(huán)境條件對(duì)電阻率測(cè)量結(jié)果影響較大，濕度升高會(huì)讓絕緣材料表面泄漏增大，電阻讀數(shù)下降；溫度變化也會(huì)改變高分子薄膜材料本體絕緣性能。開(kāi)展對(duì)比試驗(yàn)時(shí)，需要記錄每次測(cè)試環(huán)境溫度、濕度，不同批次樣品比對(duì)需要盡量保持環(huán)境條件一致。

5、未知阻值的薄膜樣品，設(shè)置測(cè)試電壓需要參考材料技術(shù)規(guī)范，不可隨意設(shè)置過(guò)高電壓，避免薄膜樣品發(fā)生擊穿，同時(shí)保護(hù)儀器硬件電路。部分高分子介質(zhì)材料電學(xué)參數(shù)存在電壓依賴(lài)性，不同加壓電壓條件，得到電阻率數(shù)值會(huì)存在差異，試驗(yàn)報(bào)告應(yīng)當(dāng)標(biāo)注本次實(shí)際施加測(cè)試電壓。

6、高阻測(cè)量工況，優(yōu)先使用 BNC 屏蔽線(xiàn)纜以及配套屏蔽箱，減少空間電磁干擾；測(cè)試線(xiàn)纜盡量不要和其他動(dòng)力電源線(xiàn)并行排布，降低外界電場(chǎng)耦合干擾。

7、U 盤(pán)導(dǎo)出數(shù)據(jù)過(guò)程中，嚴(yán)禁直接拔下 U 盤(pán)，等待屏幕提示導(dǎo)出完成之后再取下存儲(chǔ)介質(zhì)，避免文件損壞、數(shù)據(jù)丟失。

8、HANDLER 接口外接自動(dòng)化分選設(shè)備，接線(xiàn)之前需要整機(jī)斷電，避免帶電插拔接口造成接口電路損壞。

9、儀器使用環(huán)境溫度范圍 0℃?40℃，相對(duì)濕度低于 80% RH，無(wú)凝露；不要在結(jié)露、粉塵濃度高、存在腐蝕性氣體的環(huán)境長(zhǎng)期使用與存放儀器。儀器存放環(huán)境?10℃?60℃，濕度同樣不超過(guò) 80% RH 無(wú)凝結(jié)。設(shè)備工作地點(diǎn)海拔不要超過(guò) 2000m。

10、長(zhǎng)期不使用儀器，需要存放于干燥環(huán)境，定期通電開(kāi)機(jī)；搬運(yùn)過(guò)程做好防護(hù)，避免強(qiáng)烈震動(dòng)沖擊。出現(xiàn)故障應(yīng)當(dāng)交由專(zhuān)業(yè)人員維護(hù)，非專(zhuān)業(yè)人員不要拆開(kāi)儀器機(jī)殼。

11、測(cè)試結(jié)束之后，及時(shí)清理測(cè)試電極套件，去除薄膜碎屑、粉塵、污漬，電極表面保持清潔，電極臟污會(huì)直接影響后續(xù)樣品的測(cè)量精度。

名詞釋義

絕緣電阻 R：施加直流電壓條件下，被測(cè)材料整體呈現(xiàn)的電阻數(shù)值。 泄漏電流 I：直流電壓作用下，穿過(guò)絕緣試樣的微弱電流。 體積電阻 Rv：垂直穿過(guò)試樣本體材料的電阻。 表面電阻 Rs：沿著試樣材料表面形成泄漏通路的電阻。 體積電阻率：材料本體絕緣固有參數(shù)，消除樣品厚度、面積影響，單位 Ω?cm。 表面電阻率：表征材料表面導(dǎo)電能力的固有參數(shù)。 SCPI 指令集：可編程儀器標(biāo)準(zhǔn)命令集，實(shí)現(xiàn)計(jì)算機(jī)對(duì)測(cè)試儀器遠(yuǎn)程控制。 HANDLER 接口：硬件電氣接口，用于對(duì)接自動(dòng)化分選設(shè)備輸出判定信號(hào)。 三電極系統(tǒng)：由高壓電極、測(cè)量電極、保護(hù)電極組成測(cè)試電極結(jié)構(gòu)，抑制表面泄漏電流干擾，是絕緣電阻率測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)推薦電極形式。 測(cè)量延時(shí)：加壓之后，等待介質(zhì)極化的時(shí)間，到達(dá)延時(shí)之后再采集讀數(shù)。 放電延時(shí)：測(cè)試完成之后，回路釋放樣品上積蓄電荷的持續(xù)時(shí)間。

隨機(jī)配套配件清單

1、測(cè)試儀器 1 臺(tái) 2、電源線(xiàn) 1 條 3、測(cè)試電極 1 套 4、使用說(shuō)明書(shū) 1 份 5、出廠(chǎng)測(cè)試報(bào)告 1 份 6、上位機(jī)連接線(xiàn) 1 條 7、屏蔽箱 1 個(gè) 8、測(cè)試夾 1 套 9、232 數(shù)據(jù)串口組件 1 套