前言

在消費電子制造中，UV膠是攝像頭模組、顯示屏模組、FPC柔性電路、連接器封裝等環節的核心工藝材料，承擔粘接固定、防水防塵等關鍵功能，對產品可靠性與使用壽命至關重要。

隨著精密制造升級，膠路寬度與高度公差已壓縮至微米級，傳統2D視覺與普通激光輪廓檢測難以適配透明膠材、復雜輪廓與高速量產的多重要求，基于光譜共焦技術的三維在線檢測成為行業主流解決方案。

檢測難點

透明膠材成像難度大

UV膠具有高透光性，2D成像易出現過曝、邊緣模糊，無法精準測量膠層高度與涂覆體積；檢測厚度在0.02~0.2mm之間的極薄透明膠路時，采用線激光檢測光線易穿透膠體，反射信號強度不足，無法掃描獲取真實的膠水輪廓信息。

膠路輪廓存在檢測盲區

膠路多分布于屏側邊、FPC彎折處、元器件引腳等位置，兼具弧形曲面、陡峭斜面與窄縫結構，普通3D傳感器受光路角度限制，對大斜率表面易產生陰影遮擋，導致膠路側壁數據缺失，無法完整獲取三維輪廓，難以判定溢膠、偏膠等缺陷。

高速產線節拍匹配難

消費電子產線節拍快、膠路尺寸公差嚴苛，采用傳統人工抽檢與離線測量效率低，難以滿足產線檢測效能升級的核心需求。

埃科方案：線光譜共焦傳感器

埃科光電SG3011線光譜共焦傳感器依托同軸光譜共焦技術架構，可覆蓋透明膠材測量、復雜輪廓成像與高速量產檢測的核心需求。

突破透明材質成像瓶頸

SG3011基于同軸式光譜共聚焦原理，通過解析反射的單色光波長信息計算物體高度值，由于測量光與反射光沿同一路徑傳輸，不受膠材透光性干擾，可穩定獲取透明UV膠的表面輪廓數據。

產品Z軸重復精度達0.05μm，可精準測量膠層高度、寬度與涂覆體積，穩定檢測低至20μm厚度的超薄膠層，并清晰識別膠內氣泡、表面顆粒等微小缺陷，為膠量管控提供可靠數據支撐。

消除復雜輪廓檢測盲區

針對弧形曲面、陡峭斜面易產生陰影遮擋的問題，SG3011采用大數值孔徑光學設計，具備優異的大斜率表面適配能力，鏡面最大傾斜角度達45°，可有效采集膠路反射信號，避免傳統3D傳感器的檢測盲區。

該傳感器X軸分布2944個輪廓數據，X軸輪廓數據間隔1.7μm，X軸測量范圍為5mm，可生成高密度三維點云，完整還原復雜膠路形貌，實現全維度覆蓋。

適配高速產線節拍

SG3011的線光譜共焦技術可實現單條掃描線上所有測點同步高精度測距，具備“線掃描”的高速特性，全量程掃描速度4.4kHz（最高掃描速度18kHz），顯著提升檢測效率，配合產線運動平臺即可實現高速在線全檢。

檢測數據可實時輸出至產線控制系統，為點膠工藝閉環調節提供數據支撐，替代人工抽檢與離線測量模式，適配消費電子量產線的高效質量管控需求。

產品參數

應用效果